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分析天平
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型号:AB-S/FACT

更新时间:2024-03-15  |  阅读:2222

详情介绍

    内置砝码校准保证了精密可靠的称量结果,天平用FACT进行自动校准。可节省使用外校砝码耗费的时间。温度变化可影响称量结果的精确性。当探测器检测到温度变化超过允许限制时,FACT会自动启动校准天平。

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